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东莞市柳沁检测仪器有限公司

高低温试验箱、恒温恒湿试验箱、冷热冲击试验箱、紫外线老化试验箱、氙灯老化试验...

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首页 > 供应产品 > 半导体环境试验箱
半导体环境试验箱
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产品: 浏览次数:29半导体环境试验箱 
品牌: 柳沁科技
单价: 面议
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供货总量:
发货期限: 自买家付款之日起 20 天内发货
有效期至: 长期有效
最后更新: 2020-09-16 09:41
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详细信息
 半导体环境试验箱可以模拟各种温湿度环境,进行高低温湿度恒定、渐变、突变或湿热试验。适用于检测家具材料、电子、电器、led、通讯、塑胶制品、仪表、金属、化工、食品、汽车等产品。主要是提供给工业产品做复杂温湿度环境的可靠性试验,对产品的物理以及其他相关特性进行环境模拟测试,来判断产品的性能,是否仍然能够符合预定要求,以便于产品设计、改进、鉴定及出厂检验用。

半导体环境试验箱性能:
1:内 尺 寸 

容积80升对应的:宽40x高50x深40cm;

容积150升对应的:宽50x高60x深50cm;

容积225升对应的:宽50x高75x深60cm;

容积408升对应的:宽60x高85x深80cm;

容积800升对应的:宽100x高100x深80cm;

容积1000升对应的:宽100x高100x深100cm


2.外 尺 寸(约)以实际尺寸为标准,也可以根据要求定制
3.温度范围 -70℃~150 ℃ (气冷式)
4.降温速率 20℃~-70 ℃ /100 min (空载下约每分钟降温1度)
5.升温速率 0℃~+150 ℃ /40 min(空载下约每分钟升温1度)
6.温度稳定度 ±0.5℃
7.温度偏差 ±2.0℃

满足标准

·GB/T10589-2008低溫試驗箱技術條件

·GB/T10586-2006湿热试验箱技术条件

·GB/T10592-2008高低温试验箱技术条件

·GB2423.1-2008低温试验Aa , Ab

·GB2423.1-2008(IEC68-2-3)恒定湿热试验 Ca

·MIL-STD810D方法502.2

·GB/T2423.4-2008(MIL-STD810)方法507.2程序3

·GJB 150.9-8温热试验

·GB2423.34-2012、MIL-STD883C方法1004.2温湿度组合循环试验

结构材质:

1. 外壳均采用优质钢板数控机床加工成型,外壳表面进行防静电喷塑处理,更显光洁、美观;

2. 内胆采用优质SUS304镜面不锈钢板;

3. 温湿度循环系统采用特制空调型低噪音长轴风扇电机,耐高低温之不锈钢多翼式叶轮,以达强度对流垂直扩散循环;

4. 保温材质选用高密度玻璃纤维棉,保温层厚度为100mm;

5. 门与箱体之间采用双层耐高温之高张性密封条以确保测试区的密闭;

6. 采用无反作用门把手,操作更容易;

7. 机器底部采用高品质可固定式PU活动轮;

8. 测试孔(机器左侧)可外接测试电源线或信号线使用(孔径或孔数须增加需指示);

9. 观察窗采用多层中空钢化玻璃,内侧胶合片式导电膜加热除霜(清楚观察试验过程)

原文链接:http://www.knots.cn/chanpin/show-32010.html,转载和复制请保留此链接。
以上就是关于半导体环境试验箱全部的内容,关注我们,带您了解更多相关内容。
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